Nesta quarta-feira (30), em Resende (RJ), SAE BRASIL debate metrologia para fábricas do futuro

Apresentar as tendências tecnológicas do setor, no contexto da Indústria 4.0, é a proposta do encontro

Novas tecnologias de medição industrial agora  propõem reduzir o tempo das análises e aumentar a precisão dos resultados. Debater as tendências tecnológicas do setor, no contexto da Indústria 4.0, é o objetivo principal do Simpósio SAE BRASIL de Metrologia 2016, que será realizado nesta quarta-feira, 30, na empresa Meritor, situada no Polo Industrial de Resende, RJ.

“Com a chegada da Internet das Coisas e o crescimento da automatização, a indústria  deve revolucionar as linhas de montagens e gerar produtos inovadores e customizados em futuro próximo, com robôs cada vez mais colaborativos no processo”, comenta Juliano Moraes, chairperson do simpósio e supervisor de Qualidade da MAN Latin America.

No cenário de inovações estão sistemas de medição integrados a linhas de produção (medição in line) e ferramentas de medição óptica 3D. “O metrologista passará a ter função muito mais analítica do que operacional, o que certamente impulsionará a produtividade, de modo a minimizar os erros e aumentar a qualidade”, avalia o engenheiro.

Programação – Com o tema “Metrologia na Cadeia de Fornecedores da Indústria da Mobilidade”, o encontro terá sete palestras. Especialistas com largas experiências na área falarão para engenheiros e técnicos que atuam em indústrias, centros de pesquisa e agências governamentais assim como acadêmicos e estudantes de engenharia.

Paulo Roberto Guimarães Couto, chefe do Laboratório de Pressão do Inmetro, abrirá o encontro e discutirá sobre a função dos laboratórios de metrologia no contexto da globalização. Em seguida, Vicente Massaroti, diretor técnico da Vtech, fará avaliação sobre o uso da medição óptica 3D na Indústria 4.0.

Gustavo Daniel Donatelli, ‎diretor executivo do Centro de Metrologia e Instrumentação da Fundação CERTI, falará sobre o controle estatístico de processos para a melhoria contínua da qualidade; e Celso Scaranello, presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), discutirá sobre qualificação metrológica.

Depois Rodrigo dos Reis Pereira, da Embraer, abordará o tema “Consumo das Informações em MBD (Model Basead Definition)”. Integração de máquinas de medição por coordenadas a linhas de produção na Manufatura 4.0 será o tema de André Roberto de Sous, professor do Instituto Federal de Santa Catarina (IFSC). Em seguida, Danilo Lapastini, vice-presidente da Hexagon Manufacturing Intelligence, ministrará palestra focada na Indústria 4.0.

Organizado pela Seção Regional Rio de Janeiro da SAE BRASIL, sob a direção do engenheiro Mithermayer Menabó Junior, o encontro recebe patrocínio das empresas 3D Systems, Dassault Systemes, Hexagon, Mitutoyo, Renishaw e Vtech, além de apoio do IQA (Instituto da Qualidade Automotiva), Manufatura Inteligente, Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp) e Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM).

“Os simpósios da SAE BRASIL são focados em temas indispensáveis para o desenvolvimento da engenharia da mobilidade e voltados a uma visão das tendências globais da tecnologia de ponta”, diz o engenheiro Frank Sowade, presidente da SAE BRASIL.

PROGRAMAÇÃO DO SIMPÓSIO SAE BRASIL DE METROLOGIA 2016

09h – Abertura com Mithermayer Menabó Junior, diretor da Seção Rio de Janeiro da SAE BRASIL, e Valdir Lopes Urbaneja, gerente industrial da Meritor.

09h15 – Palestra “A Função de um Laboratório de Metrologia de Acordo com o Contexto de Globalização”, com Paulo Roberto Guimarães Couto, chefe do Laboratório de Pressão do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO).

10h – Palestra “Medição Óptica 3D – Uso e Aplicação na Indústria Automotiva e na Indústria 4.0”, com Vicente Massaroti, diretor técnico da Vtech.

11h05 – Palestra “CEP e Metrologia: Contribuindo para o Sucesso das Indústrias Brasileiras”, com Gustavo Daniel Donatelli, ‎diretor executivo do Centro de Metrologia e Instrumentação da Fundação CERTI.

11h50 – Palestra “Qualificação Metrológica”, com Celso Scaranello, presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp).

13h55 – Palestra “Consumo das Informações em MBD (Model Basead Definition)”, com Rodrigo dos Reis Pereira, da Embraer.

14h50 – Palestra “Integração de Máquinas de Medir por Coordenadas na Medição em Linhas de Produção na Manufatura 4.0”, com André Roberto de Sous, professor do Instituto Federal de Santa Catarina (IFSC).

15h45 – Palestra “A Indústria 4.0 Pode Ser Simples”, com Danilo Lapastini, vice-presidente da Hexagon Manufacturing Intelligence.

16h30 – Encerramento com Juliano Moraes, chairperson do Simpósio SAE BRASIL de Metrologia 2016.

Simpósio SAE BRASIL de Metrologia 2016
Data: 30 de novembro, das 9h às 16h30.
Local: Meritor – rua Engenheiro Alan da Costa Batista, 100, Polo Industria, Resende – RJ.

Fonte: Companhia de Imprensa da SAE-Brasil